顾如首页
搜索全球专利
全国专利代理信息
代理机构入驻
专利行业求职招聘
全部
美国
欧盟
中国
更多
WIPO
日本
韩国
英国
法国
加拿大
澳大利亚
巴西
瑞士
德国
丹麦
欧盟知识产权局
西班牙
芬兰
印度尼西亚
以色列
印度
意大利
马来西亚
荷兰
俄罗斯
瑞典
中国台湾地区
南非
其他
收起
列表数据仅在虚线下方。 全文数据即将推出。
简单搜索
高级搜索
图片搜索
检索式搜索
IPC搜索
语义搜索
深度搜索
高级搜索
检索式搜索
国家/地区:
全部
美国
欧盟
中国
更多
WIPO
日本
韩国
英国
法国
加拿大
澳大利亚
巴西
瑞士
德国
丹麦
欧盟知识产权局
西班牙
芬兰
印度尼西亚
以色列
印度
意大利
马来西亚
荷兰
俄罗斯
瑞典
中国台湾地区
南非
其他
收起
列表数据仅在虚线下方。 全文数据即将推出。
状态:
专利授权
专利申请
实用
外观设计
再颁专利
植物
复制检索式
在检索式搜索中编辑
权重:数字越大说明信息更加重要
清空
搜索
取消
复制检索式
TI
CLM
DESC
ABS
PD
FD
PRD
IPC
IN
ASN
AND
OR
NOT
(
)
*
?
>
<
重置
搜索
取消
二次检索
AND
OR
NOT
所有字段
IPC分类号
申请(专利权)人
发明(设计)人
标题
摘要
说明书
权利要求
标题+摘要
标题+摘要+权利要求
二次检索
取消
中文简体
中文简体
English
登录
注册
完善信息，您将获得更好服务
您的就职领域
企业研发
企业IPR/法务
企业战略(管理/决策/投资）
高校(学生)
高校(老师/研究人员）
科研院所
金融/投资
政府/机构
知产代理/律师
咨询机构
其他
您关心的技术领域
您关注的公司
免费获取关心的领域和关注公司报告
提交
跳过
帮助文档
优先推荐
如需咨询产品相关问题，请 点此反馈 。
Ibm international business machines corporation 专利
返回
筛选
搜索历史
国家/地区
美国，中国和欧盟有全文数据
类型
法律有效性
法律状态
申请日
—
公开(公告)日
—
发明(设计)人
申请(专利权)人
点击 展开
IPC分类号(部)
IPC分类号(大类)
IPC分类号(小类)
IPC分类号(大组)
IPC分类号(小组)
外观分类
代理人
代理机构
权利要求数
附图数
引用数
申请(专利权)人数
交易类型
我的
搜索
分析
监控
团队
我的收藏
全部
归档
查看更多
收起
新建标签
我的笔记
笔记
我的关键词组
关键词组
我的报告
查新报告
审查报告
相似度报告
我的关注
公司
关注
主题
关注
我的搜索
保存的搜索
搜索历史
分析
分析列表
专利监控
我的监控
新建监控
相似专利跟踪
研发Pro报告
Pro主页
我的跟踪
全部跟踪
技术主题
公司技术
新建跟踪
技术主题
公司技术
热门主题
机器人
人工智能
生物制药
设置
停用词
团队
全部
查看更多
收起
创建团队
设置
个人中心
我的订单
下载历史
消息通知
编辑个人信息
修改密码
我的积分
推荐返利
账户概览
我的优惠码
推广客户
筛选
图文模式
列表模式
图文模式
全图模式
首图模式
收藏
将标签应用到所选文档
全部
取消
保存并应用
新建
团队
创建团队
取消
添加
高亮
重置
取消
分析
专利对比
清除
对比查看
取消
图片对比
至少2张图片
(0/8)
图片对比
取消
导出
下载
监控
合并
不合并
简单同族合并
拓展同族合并
申请号合并
合并设置
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
显示设置
保存检索式
< 返回结果列表
全部
无
有标签
无标签
全部
(0)
顾如代理评估：客观数据，选对代理
共 55 条 耗时 0.146 秒
排序
默认
按最新公开(公告)日期排序
按最早公开(公告)日期排序
按主IPC(A-Z)排序
按主IPC(Z-A)排序
按最新申请日期排序
按最早申请日期排序
序号
公开(公告)号
标题
公开(公告)号
公开(公告)号
公开(公告)日
公开(公告)日
申请号
申请号
申请日
申请日
发明(设计)人
发明(设计)人
申请(专利权)人
申请(专利权)人
代理机构
代理机构
IPC分类号
IPC分类号
1
US20160181087A1
Particle removal with minimal etching of silicon-germanium
发明申请
标题翻译:
硅锗的最小刻蚀去除颗粒
公开(公告)号:
US20160181087A1
公开(公告)日:
2016-06-23
申请号:
US14/576,554
申请日:
2014-12-19
发明(设计)人：
Foster, John
Bentley, Steven
Lin, Sean
Rath, Dave
Sankarapandian, Muthumanickam
Xie, Ruilong
申请(专利权)人:
Intermolecular Inc.
IBM-International Business Machines Corporation
IPC分类号:
H01L21/02
摘要:
Particle-clean formulations and methods for semiconductor substrates use aqueous solutions of tetraethylammonium hydroxide (“TEAH,” C8H21NO) with or without hydrogen peroxide (H2O2). The solution pH ranges from 8-12.5. At process temperatures between 20-70 C, the TEAH solutions have been observed to remove particles from silicon-germanium (SiGe) with 20-99% Ge content in 15-300 seconds with very little etching (SiGe etch rates<1 nm/min).
下载
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
2
DE102004023407B8
Testvorrichtung und Verfahren zum Testen eines eingebetteten Speicherkerns sowie zugehöriger Halbleiterchip
发明授权
标题翻译:
测试装置及测试嵌入式存储器核心及相关半导体晶片的方法
公开(公告)号:
DE102004023407B8
公开(公告)日:
2014-01-23
申请号:
DE102004023407
申请日:
2004-05-12
发明(设计)人：
Wang, Li
Boehler, Thomas
Dasappa, Jairam Vasudev
申请(专利权)人:
Infineon Technologies AG
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
G11C7/24
摘要:
Testvorrichtung zum Testen eines eingebetteten Speicherkerns (100) auf einem Halbleiterchip mit einer integrierten Selbsttest-Schaltung (102) mit: einer Vorrichtung (142) zum Simulieren eines integrierten Selbsttests mit einer Steuerschnittstelle zum Initialisieren und Takten der integrierten Selbsttest-Schaltung auf dem Halbleiterchip; einem Adressengenerator (144) zum Generieren einer ersten Adressensequenz, die mit einer zweiten Adressensequenz übereinstimmt, die von der integrierten Selbsttest-Schaltung (102) während des integrierten Selbsttests des eingebetteten Speicherkerns (100) generiert wird, wobei der Adressengenerator (144) Taktungsinformationen von der Vorrichtung (142) zum Simulieren des integrierten Selbsttests zum Synchronisieren der ersten Adressensequenz mit der zweiten Adressensequenz empfängt; und Dateneingabeknoten (138) zum Empfangen von Datenausgangsbussignalen von der integrierten Selbsttest-Schaltung (102) während des integrierten Selbsttests des eingebetteten Speicherkerns (100), wobei die Datenausgangsbussignale anzeigen, ob einzelne Speicherzellen den integrierten Selbsttest nicht bestanden haben, und wobei die Testvorrichtung dazu ausgebildet ist, einen bestimmten Speicherzellenfehler mit einer entsprechenden Adresse zu korrelieren, die von dem Adressengenerator (144) generiert wird.
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
3
DE102012218390A1
Optimierung der Erkennung von Objekten in Bildern
发明申请
标题翻译:
图像中物体识别的优化
公开(公告)号:
DE102012218390A1
公开(公告)日:
2013-04-25
申请号:
DE102012218390
申请日:
2012-10-09
发明(设计)人：
Li, Ying
Pankanti, Sharathchandra
申请(专利权)人:
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
G06K9/62
摘要:
Ein System und Verfahren erkennen Objekte in einem digitalen Bild. Es werden mindestens Positionsdaten empfangen, die einem Fahrzeug zugeordnet sind. Geographische Informationen, die zu den Positionsdaten gehören, werden empfangen. Auf der Grundlage der geographischen Daten wird eine Wahrscheinlichkeit für das Erkennen eines Zielobjektes innerhalb eines entsprechenden geographischen Bereichs ermittelt. Die Wahrscheinlichkeit wird mit einem gegebenen Schwellenwert verglichen. Als Reaktion darauf, dass die Wahrscheinlichkeit größer oder gleich dem gegebenen Schwellenwert ist, wird ein Objekterkennungsprozess mindestens eines von aktiviert und in einem aktivierten Zustand gehalten. Der Objekterkennungsprozess erkennt Zielobjekte innerhalb eines Bildes, das mindestens ein Einzelbild einer Videobildfolge einer externen Umgebung darstellt. Als Reaktion darauf, dass die Wahrscheinlichkeit unter dem gegebenen Schwellenwert liegt, wird der Objekterkennungsprozess mindestens eines von deaktiviert und in einem deaktivierten Zustand gehalten.
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
4
DE102004023407B4
Testvorrichtung und Verfahren zum Testen eines eingebetteten Speicherkerns sowie zugehöriger Halbleiterchip
发明授权
标题翻译:
测试装置及测试嵌入式存储器核心及相关半导体晶片的方法
公开(公告)号:
DE102004023407B4
公开(公告)日:
2013-10-10
申请号:
DE102004023407
申请日:
2004-05-12
发明(设计)人：
Wang, Li
Boehler, Thomas
Dasappa, Jairam Vasudev
申请(专利权)人:
Infineon Technologies AG
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
G11C7/24
摘要:
Testvorrichtung zum Testen eines eingebetteten Speicherkerns (100) auf einem Halbleiterchip mit einer integrierten Selbsttest-Schaltung (102) mit: einer Vorrichtung (142) zum Simulieren eines integrierten Selbsttests mit einer Steuerschnittstelle zum Initialisieren und Takten der integrierten Selbsttest-Schaltung auf dem Halbleiterchip; einem Adressengenerator (144) zum Generieren einer ersten Adressensequenz, die mit einer zweiten Adressensequenz übereinstimmt, die von der integrierten Selbsttest-Schaltung (102) während des integrierten Selbsttests des eingebetteten Speicherkerns (100) generiert wird, wobei der Adressengenerator (144) Taktungsinformationen von der Vorrichtung (142) zum Simulieren des integrierten Selbsttests zum Synchronisieren der ersten Adressensequenz mit der zweiten Adressensequenz empfängt; und Dateneingabeknoten (138) zum Empfangen von Datenausgangsbussignalen von der integrierten Selbsttest-Schaltung (102) während des integrierten Selbsttests des eingebetteten Speicherkerns (100), wobei die Datenausgangsbussignale anzeigen, ob einzelne Speicherzellen den integrierten Selbsttest nicht bestanden haben, und wobei die Testvorrichtung dazu ausgebildet ist, einen bestimmten Speicherzellenfehler mit einer entsprechenden Adresse zu korrelieren, die von dem Adressengenerator (144) generiert wird.
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
5
DE602006012843D1
VERBESSERUNG DER VERARBEITUNG IN DATENVERARBEITUNGSUMGEBUNGEN MIT SEITENERSETZUNG FÜR GASTENANWENDUNGEN
外观设计
标题翻译:
提高数据处理环境中的处理水平，对气体应用程序进行侧移处理
公开(公告)号:
DE602006012843D1
公开(公告)日:
2010-04-22
申请号:
DE602006012843
申请日:
2006-07-13
发明(设计)人：
Franke, Hubertus
Heller, Lisa
Adlung, Ingo
Holder, William
Mansell, Ray
Osisek, Damian
Philley, Randall
Schwidefsky, Martin
Sittmann, Gustav
Choi, Jong Hyuk
申请(专利权)人:
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
G06F9/455
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
6
DE10296608B4
Verfahren zum Herstellen einer Speicherzelle
发明授权
标题翻译:
制造存储单元的方法
公开(公告)号:
DE10296608B4
公开(公告)日:
2010-10-14
申请号:
DE10296608
申请日:
2002-04-08
发明(设计)人：
Radens, Carl
Kudelka, Stephan
Dyer, Thomas W
Prakash, Jai V C
申请(专利权)人:
Qimonda AG
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
H01L21/8242
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
7
DE60320301T2
公开(公告)号:
DE60320301T2
公开(公告)日:
2009-06-25
申请号:
DE60320301
申请日:
2003-12-10
发明(设计)人：
Reohr, William Robert
Gogl, Dietmar
Scheuerlein, Roy Edwin
申请(专利权)人:
Qimonda AG
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
G11C11/16
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
8
DE10315050B4
Niederspannungspegelwandler mit Zwischenspeicherfunktion
发明授权
标题翻译:
索赔人称，但也可以说，
公开(公告)号:
DE10315050B4
公开(公告)日:
2009-04-23
申请号:
DE10315050
申请日:
2003-04-02
发明(设计)人：
Kirihata, Toshiaki
Mueller, Gerhard
Hanson, David
申请(专利权)人:
Qimonda AG
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
H03K19/0185
摘要:
Die Erfindung betrifft eine Niederspannungspegel-Wandlerschaltung mit einem eingebetteten Zwischenspeicher, die auf einer Signalleitung implementiert ist, auf der Niederspannungssignale anliegen. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Niederspannungspegel-Wandlerschaltung, die zum Empfangen von Niederspannungs-Eingangssignalen von einem ersten Abschnitt der Signalleitung und zum Ausgeben von Ausgangssignalen höherer Spannung auf einem zweiten Abschnitt der Signalleitung ausgelegt ist. Die Erfindung betrifft außerdem eine Zwischenspeicherschaltung, die zum Zwischenspeichern von Niederspannungs-Eingangssignalen von dem ersten Abschnitt der Signalleitung ausgelegt ist.
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
9
DE10310080B4
Formation of at least one deep trench structure comprises forming epitaxial silicon film on at least some portions of sidewalls of deep trench to reduce initial dimensions of deep trenches to targeted dimensions
发明授权
标题翻译:
形成至少一个深沟槽结构包括在深沟槽的侧壁的至少一些部分上形成外延硅膜，以将深沟槽的初始尺寸减小到目标尺寸，
公开(公告)号:
DE10310080B4
公开(公告)日:
2009-05-07
申请号:
DE10310080
申请日:
2003-03-07
发明(设计)人：
Chan, Kevin
Kulkarni, Subhash
Mathad, Gangadhara
Ranade, Raijv M
申请(专利权)人:
Qimonda AG
IBM INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
IPC分类号:
H01L21/308
摘要:
Formation of at least one deep trench structure comprises providing at least one deep trench having sidewalls that extend to a common bottom wall in a substrate surface, each of the deep trenches having initial dimensions that are wider than targeted dimensions for the deep trenches; and forming an epitaxial silicon film on at least some portions of the sidewalls to reduce the initial dimensions of the deep trenches to the targeted dimensions.
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
10
EP1570487B1
ARCHITECTURE FOR HIGH-SPEED MAGNETIC MEMORIES
发明授权
标题翻译:
高速磁存储器的结构
公开(公告)号:
EP1570487B1
公开(公告)日:
2008-04-09
申请号:
EP03789209.8
申请日:
2003-12-10
发明(设计)人：
Gogl, Dietmar
Scheuerlein, Roy Edwin
Reohr, William Robert
申请(专利权)人:
Infineon Technologies AG
IBM International Business Machines Corporation
代理机构:
Kottmann, Heinz Dieter
IPC分类号:
G11C11/16
下载
分享
复制链接
新浪微博
微信扫一扫
笔记
显示10条
显示20条
显示50条
显示100条
«
1
2
3
4
5
6
»
共6页
跳转
合并设置
同族合并设置
首选时间
最早申请
最晚申请
最早公开
最晚公开
首选地区
CN
US
EP
申请号合并设置
首选专利
专利申请
专利授权
取消
提交
PayPal订单
处理中...
在我们处理您的订单时，请不要单击返回或关闭此窗口。
支付成功
重新支付
专利对比
标题
所有字段
IPC分类号
标题
所有字段
IPC分类号
保存
取消
著录项导出
1.导出范围
选中文件
(共 )
从
到
(共
55
)
2.著录项字段
全选
重置
公开(公告)号
标题
链接
申请日
优先权日
公开(公告)日
摘要
申请(专利权)人
IPC分类号
权利要求
发明(设计)人
简单同族
扩展同族
3.当前额度
导出
取消
< 返回
5000 件专利
有效期1 月
单次最高下载1000件
¥ 49
30000 件专利
有效期1 月
单次最高下载1000件
¥ 299
100000 件专利
有效期1 年
单次最高下载1000件
¥ 899
邮件发送专利文件
收件人:
您好， 我正在与您分享专利顾如的以下专利文件。 您可以单击提供的链接，也可以将链接URL复制到Web浏览器以查看文档。
非常感谢！
取消
发送
全文下载
1.导出范围
选中文件
(共 0)
从
到
(共 55 )
2.导出格式
3.存放目录
根目录
按年存放
4.当前额度
导出
取消
< 返回
500 件专利
有效期1 月
单次最高下载1000件
¥ 99
1000 件专利
有效期1 月
单次最高下载1000件
¥ 199
5000 件专利
有效期1 年
单次最高下载1000件
¥ 999
设置
保存
删除团队
团队成员
成员管理
移除 吗？
如果您删除 ，则他们以后将看不到对此共享文件夹的更改。
取消
移除
监控设置
监控名称
通知方式
网站
以上两种方式
通知频率
每周
星期日
星期一
星期二
星期三
星期四
星期五
星期六
每月
1 日
2 日
3 日
4 日
5 日
6 日
7 日
8 日
9 日
10 日
11 日
12 日
13 日
14 日
15 日
16 日
17 日
18 日
19 日
20 日
21 日
22 日
23 日
24 日
25 日
26 日
27 日
28 日
29 日
30 日
31 日
保存
取消